Institut für Elektroenergiesysteme und Hochspannungstechnik

Dielectric Frequency Measurement of Semiconductive Layers in Xlpe Cables

  • Autor:

    T. Maier, K. Schmehl and T. Leibfried

  • Quelle:

    2018 IEEE CONFERENCE ON ELECTRICAL INSULATION AND DIELECTRIC PHENOMENA (CEIDP), Cancun, Mexico, October 2018

  • Datum: 2018