Institut für Elektroenergiesysteme und Hochspannungstechnik

FREQUENCY-MEASUREMENT- SETUP FOR SEMICONDUCTIVE LAYERS

  • Autor:

    T. Maier und T. Leibfried

  • Quelle:

    2017 IEEE CONFERENCE ON ELECTRICAL INSULATION AND DIELECTRIC PHENOMENA (CEIDP),
    Fort Worth, TX, USA

  • Datum: October 2017